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很好精度的尺寸测量系统
  • 新旧程度:全新
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VIEW Pinnacle+Plus将Pinnacle的性能提升到了下一个等级   
Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件,使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.   
最先进的线性马达控制技术造就了运行速度最快,最为可靠的免维护平台,满足了从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量,高性能的操作。   
   
特征:   
X,Y,Z 行程 (毫米):250 x 150 x 50   
X,Y,Z 光栅尺分辨率:XY - 0.05 μm, 零膨胀材料,Z - 0.01μm, 零膨胀材料   
平台驱动系统:无摩擦高速线性马达驱动 X&Y, 直流伺服马达驱动 Z   
最大速度:X,Y - 100 mm/sec   /   Z - 25 mm/sec   
最大承载量:25 kg   
光学系统 :单倍放大, 工厂安装背光的镜头和视场交换式前透镜标配为VIEW 1X 背管,5X镜头   
计量软件   
可选项: Elements   
可选项Measure-X   
   
可选项软件模块:   
区域多点自动ju jiao   
连续捕获图像 (CIC)   
先进的图像滤光和图像拼接,自定义   
UI操作软件   
MeasureFit   Plus   
   
SmartProfile   
3D GD&T 评估软件   
VMS 离线编程软件   
数字输入/输出Digital I/O   
   
Benchmark的应用范围包括:   
半导体/电子   
BGA, μBGA, CSP, 倒装xin片, MCM, bump-on-die   
引线框,引线接合,柔性线路板,连接器   
SMT元件贴装   
锡膏/环氧数脂胶点   
xin片载体和托盒   
喷墨打印机墨盒   
光纤组件和MEMs   
数据存储   
悬置件   
滑块和悬臂组(HGA)   
磁盘介质基板   
精密注塑和机加工件   
模具和刀具   
医疗设备   
燃料喷射部件   
手表组件
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